Journal Name:
- Jeoloji Mühendisliği Dergisi
Author Name |
---|
Bookmark/Search this post with
Abstract (Original Language):
Mikroanaliz, mineral ve materyallerin bir
ile birkaç yüz mikron küp arasında değişen kısımlarının
elementsel veya izotopik analizi
olarak tanımlanabilir. Yerbilimlerinde' ve rnetallurjide
kayaç ve cevher örnekleri içerisindeki
minerallerin mikroanalizleri için kullanılan
aletler şöyle sıralanabilir: elektron mikroprob
(EPMA), enerji yayılımı spektrometre donanımlı
taramalı elektron mikroskop (SEM -
EDXA), proton mikroprob {micro - FIXE),
iyon mikroprob (SIMS)» lazer mikroprobları,
akselaratör kütle spektrometresi, X-ışınları
floresans mikroprobu (XRMF) ve sinkrotron
X-ışınlart flor esansı (SXRF). Elektron mikroprob,
minerallerin birkaç mikron büyüklüğündeki
yerlerinin major ve minör element değerlerinin
kantitatif ' olarak saptanmasında
kullanılırken, taramalı elektron mikroskop'a
bağlı enerji • yayılımı x-ışını mikroanalizi
(SEM - EDXA) ise esas olarak major ve minör
elementlerin yan kantitatif ve kalitatif analizlerinde
kullanılmaktadır.. Oksijen, karbon ve
bunun gibi atom numarası 11'den küçük hafif
elementlerin duraytt ve hassas bir şekilde kantitatif
analizleri bu tekniklerle yapılamamaktadır.,
Proton ışınlatınca oluşturulan X-ışınları
emisyonu prensibine (ßPIXE) bağlı proton
mikroprob, minerallerin iz element miktarlarının
kantitatif olarak saptanması amacıyla geliştirilmiş
bir teknik olup, en düşük saptama
derecesi 1 ile 10 ppm arasında değişmektedir.
İyon mikroprob, bir ilksel iyon ışın'demetinin
örneğe çarpması ile oluşturulan ikincil iyonların
kütle spektometresinde analizi prensibine
(SIMS) dayanan bir alet olup, minerallerin iz
element analizlerinde, hafif elementlerin (atom
nımarası<10) kantitatif analizleri ve izotop
oranlarının saptanmasında- kullanılmaktadır.
Analitik duraylılıkları % 5 ile 10 arasında değişen
bu tekniğin en düşük saptama değerleri
elemente ve mineral cinsine bağlı olarak birkaç
yüz ppb'den yaklaşık 1 ppm'e kadar değişmektedir,
Lazer mikroprobları ise lazer ışınlannca
örneklenen materyallerin değişik kütle
spefctrometrelerince analizi prensibine dayanmaktadır.
Lazer mikroproblannın kullanılım
alanları kullanılan kütle spektrometresinin cinsine
bağlı olarak iz elementlerin kantitatif analizlerhıden
duraylı ve radyojenik izotop oranlarının
saptanmasına kadar değişebilmektedir.,
İyon mikroprob ve lazer mikroproblannın kantitatif
analizlerde etkin ve yaygın bir kullanılım
alanı bulmaları, aletlerin gerekli hassasiyette
kalibrasyonlarımn yapılmasına ve uygun standartların
bulunmasına bağlı olmaktadır.
FULL TEXT (PDF):
41-48