Journal Name:
- İstanbul Üniversitesi Orman Fakültesi Dergisi
| Author Name | University of Author | Faculty of Author |
|---|---|---|
Bookmark/Search this post with
Abstract (Original Language):
Hızlandırılmış elektronların dalga boylarının daha kısa olduğu ve bu dalga boyu ile daha yüksek ayırım gücü elde edilebileceği teorisinden yararlanılarak geliştirilen tarama elektron mikroskopunda, ayırım gücü 4 nm'ye kadar yükseltilmiştir. Odak derinliği, 1000Xbüyültmede optik mikroskopta 0,1 pjn iken tarama elektron mikroskopunda bu mesafe 30 p,m dur. Bu özellikleri yardımı ile elektron mikroskopta bir numunenin topografik ayrıntıları net olarak görülebildiği halde optik mikroskopta sadece yüzey görüntüsü alınabilmektedir. Tarama elektron mikroskobu; ayırım gücünün, büyültme oranlarının yüksek olması, görüntü sinyallerini sayısal hale çevirerek görüntüdeki ölçüm ve kimyasal analizlerin bilgisayarla yapılmasının mümkün olması, kolay numune hazırlanması gibi özellikleri nedeniyle, giderek daha yaygın uygulama alanı bulmaktadır.
Bu makalede, elektron mikroskobunun sayılan özellikleri, genel dizaynı içinde ele alınarak numune hazırlama hakkında bilgi verilmektedir.
- 2
102-124